基
  本
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  息

仪器编号

14001032

型号

HITACHI   SU-8010

制造商
  国别

日本

制造
  厂商

日本株式会社日立高新技术那珂事业场

所属
  实验室

材料与化学专业实验中心

（电镜室）

责任人

赵煌

放置地点

厦门泛华科技大楼一层

性能指标

分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式)；2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式）放大倍数：30倍-800,000倍 ； 电子枪：冷阴极场发射电子源 ;加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步，可变，普通模式) 样品台： X: 0-50mm Y: 0-50mm, Z:1.5-30mm, T: -5-70°,R:360°, 样品尺寸最大直径：100mm（标准）信号选择：二次电子模式和背散射模式，X射线信号，辅助信号

科
  研
  信
  息

主要应用

（1）形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察，同时还可对材料断口和失效进行分析（2）微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。

样品要求

送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；无磁性、放射性和腐蚀   性。含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理，最后由本室进行临界点干燥处 理。观察图像样品应预先喷金膜。一般情况下，样品尽量小块些 ( ≤10x10x5mm 较方便 ) 。粉末样品每个需1克左右。纳米样品一般需超声波分散，并喷涂超细微金膜。

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是否
  对外开放

是

服务对象

校内外

收费标准

平台公布

开放时间

平台公布

是否通过计量认证

否

仪器管理员

赵煌

联系电话

平台公布

电子邮件

平台公布

备注